dc.contributor.author |
Пальчевський, Б. О.
|
|
dc.date.accessioned |
2023-06-08T08:17:07Z |
|
dc.date.available |
2023-06-08T08:17:07Z |
|
dc.date.issued |
2023 |
|
dc.identifier.uri |
http://ir.stu.cn.ua/123456789/27932 |
|
dc.description |
Пальчевський, Б. О. Принципи визначення надійності мехатронних технологічних комплексів / Б. О. Пальчевський // Комплексне забезпечення якості технологічних процесів та систем (КЗЯТПС – 2023) : тези доповідей XІІІ Міжнародної науково-практичної конференції (м. Чернігів, 25–26 травня 2023 р.) : у 2 т. Т. 1. – Чернігів : НУ «Чернігівська політехніка», 2023. – С. 63-64. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
Технічне діагностування – комплекс операцій по встановленню наявності дефектів і несправностей технологічного обладнання. Основними об'єктами діагностування стають найбільш навантажені вузли і механізми технологічного обладнання, що працюють в складних і важких умовах застосування, при підвищених температурах, хімічному і електричному впливі, незадовільних умовах доступності до обслуговування, мащення.
Контроль та моніторинг технічного стану має особливе значення для мехатронних технологічних комплексів (МТК), що набувають поширення в дискретному, наприклад пакувальному, виробництвах. Тобто технологічних комплексів, що мають в своєму складі мехатронні виконавчі механізми. Метою дослідження є удосконалення методу автоматизованого тестування параметрів МТК та розробка програмно-апаратного забезпечення для визначення його технічного стану. |
uk_UA |
dc.language.iso |
uk |
uk_UA |
dc.publisher |
Чернігів : НУ "Чернігівська політехніка" |
uk_UA |
dc.title |
Принципи визначення надійності мехатронних технологічних комплексів |
uk_UA |
dc.type |
Working Paper |
uk_UA |